瑞士博勢Proceq Equotip Bambino 2硬度計(jì)-----易于使用的便攜式硬度計(jì),可用于大多數(shù)金屬的精確測量,Proceq Equotip Bambino 2是一款易于使用的便攜式硬度計(jì),可用于大多數(shù)金屬的精確測量。 Proceq Equotip Bambino 2將現(xiàn)代電子設(shè)備和創(chuàng)新的沖擊裝置相結(jié)合,提供較高的性價比。 這種獨(dú)自的測試儀不需要單獨(dú)的指示設(shè)備,電纜或PC硬件。 Proceq Equotip Bambino 2輕巧緊湊的設(shè)計(jì)非常適用于質(zhì)量控制和來料檢驗(yàn)和整個生產(chǎn)過程的測試。 其易用的操作界面及其實(shí)用功能使得Proceq Equotip Bambino 2成為符合人體工程學(xué)的綜合回彈硬度測試儀。
監(jiān)測金屬硬度
金屬在轉(zhuǎn)換為產(chǎn)品前要經(jīng)過不同工藝的處理。每道工藝都會對金屬的機(jī)械和化學(xué)性質(zhì)產(chǎn)生影響。例如,鋼的強(qiáng)度由其化學(xué)成分和微結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變確定。宏觀變量用于控制產(chǎn)品質(zhì)量。硬度是較易監(jiān)測的的一個金屬特征。1975 年,Proceq 發(fā)明了創(chuàng)造性的便攜式金屬硬度檢測儀“Equotip”。早已成為業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的里氏原理也由 Proceq 發(fā)明,使測量金屬硬度變得非常簡單?,F(xiàn)在,Equotip Piccolo 2 / Bambino 2 繼續(xù)發(fā)揚(yáng)了 Proceq 制造產(chǎn)品的傳統(tǒng)。
ProceqEquotip Bambino 2還具有以下特點(diǎn)
標(biāo)準(zhǔn)化測試根據(jù)DIN 50156和ASTM A956、自動識別和補(bǔ)償沖擊方向 - 高度準(zhǔn)確
大容易讀取的高對比度液晶顯示器 - 使讀數(shù)更容易
將各個讀數(shù)和平均測試結(jié)果轉(zhuǎn)換為所有常見的硬度標(biāo)準(zhǔn)(HV,HB,HRC,HRB,HS)
操作簡單 - 通過三鍵鍵盤設(shè)置所有測試參數(shù),耐刮擦鋁制外殼 - 堅(jiān)固耐用
智能開機(jī)/待機(jī)電源切換以獲得電池充電壽命內(nèi)置鋰離子電池可通過USB端口或使用可選的外部充電器
體積小巧便于攜帶 - 僅145mm x 44mm x 20mm,可以隨時升級到Equotip®Piccolo
主要附件
沖擊裝置 DL - 這是 Proceq 獨(dú)家提供的功能。它允許用戶使用 Piccolo 2 / Bambino 2 快速簡便地互換 D 和 DL 沖擊裝置。
測試塊 - 在參考硬度對象上定期執(zhí)行 3 到 10 次的測試沖擊是很有必要,這可用于驗(yàn)證Equotip 儀器能否正確操作。
根據(jù)用戶的硬度要求,可使用各種測試塊。為了更加方便,測試塊還以不同標(biāo)度指示出參考硬度值。
支撐環(huán) - 里氏回彈檢測儀僅當(dāng)沖擊體在沖擊過程中距測試表面適當(dāng)距離時才能正確工作。
多種型號的支撐環(huán)允許在各種形狀的目標(biāo)上進(jìn)行測試,即平面、凹面或凸起柱面、球形測試表面等。
即時轉(zhuǎn)換成常用金屬硬度 |
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金屬硬度可通過不同的標(biāo)度顯示:HLD(里氏)、HRC(洛氏)、HB(布氏)、HV(維氏)等。 使用 Piccolo 2 /Bambino 2 特別的單一加載釋放機(jī)制, 可通過任何選定的硬度標(biāo)度來獲取和顯示硬度測量值。 Equotip Piccolo 2 具有一個額外的功能,允許用戶為特殊合金自定義轉(zhuǎn)換曲線, 還允許用戶將硬度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為抗張強(qiáng)度。 |
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Equotip 硬度檢測儀的里氏回彈原理
常用于金屬的便攜式硬度檢測儀基于 Proceq SA 發(fā)明的里氏回彈法。Equotip Bambino 2 按里氏原理進(jìn)行操作,其中的硬度值是用在樣品上進(jìn)行沖擊前后的沖擊體的能量之比計(jì)算出來的。此能量指數(shù)(EQUO) 以硬度單位 HL 表示,用沖擊體的沖擊速度和回彈速度(vi、 vr)之比計(jì)算出來。沖擊體在較硬樣品上的回彈速度比在較軟樣品上要快,從而得出更大的能量指數(shù)。
技術(shù)參數(shù) |
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使用 D 型沖擊裝置 |
使用 DL型沖擊裝置 |
測量范圍 |
150-950 HLD |
250-970 HLDL |
尺寸 |
147.5 x 44 x 20 毫米(55.71 x 1.75 x 0.79英寸) |
203 x 44 x 20 毫米(7.99 x 1.75 x 0.79 英寸) |
儀器重量 |
142 克(5 盎司) |
152 克(5.4 盎司) |
轉(zhuǎn)換 |
80-955 HV、81-678 HB、20-70 HRC、38-102 HRB、30-100 HS (僅限 Equotip Piccolo 2:274-2193 N/mm2)
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分辨率 |
1 HLD / HLDL、1 HV、1 HB;0.1 HRC、0.1 HRB、0.1 HS(僅限 Equotip Piccolo 2:1 N/mm2 Rm) |
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測量精度 |
± 4 HLD / HLDL(800 HLD / HLDL 時為 0.5%) |
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*大檢測硬度 |
890 HLD (955 HV, 68 HRC) |
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沖擊方向 / 能量 |
自動補(bǔ)償 / 11 Nmm |
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球壓頭 |
碳化鎢(約 1’500 HV),~ 3 毫米(0.12 英寸) |
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外殼 |
防刮硬質(zhì)鋅合金 |
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電池 |
可充電鋰電池,能夠執(zhí)行 2 萬多次沖擊,充電電流 100 mA |
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集成存儲器 |
非易失性 RAM,32 kB,可存儲約 2000 個測量值(僅限 Equotip Piccolo 2) |
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操作條件 |
溫度:-10 至 +60 °C(14 至 140 °F);濕度:*高 90% |
支撐環(huán) |
附件 通用 |
350 03 000Equotip 支撐環(huán)組(12 件裝)適用于 D/DC/C/E/D+15 350 03 001Equotip 支撐環(huán) Z 10-15350 03 002Equotip 支撐環(huán) Z 14.5-30 350 03 003Equotip 支撐環(huán) Z 25-50 350 03 004Equotip 支撐環(huán) HZ 11-13 350 03 005Equotip 支撐環(huán) HZ 12.5-17 350 03 006Equotip 支撐環(huán) HZ 16.5-30 350 03 007Equotip 支撐環(huán) K 10-15 350 03 008Equotip 支撐環(huán) K 14.5-30 350 03 009Equotip 支撐環(huán) HK 11-13 350 03 010Equotip 支撐環(huán) HK 12.5-17 350 03 011Equotip 支撐環(huán) HK 16.5-30 350 03 012Equotip 支撐環(huán) UN
保修 *長可為主機(jī)購買 36 個月的延長保修。 延長保修服務(wù)必須在購買時或購買之日 起 90 天內(nèi)購買。
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352 95 021Equotip DL 附件工具包 350 01 015Equotip 耦合劑 測試塊 357 11 100Equotip 測試塊 D/DC,經(jīng) Proceq 校準(zhǔn) (<500HLD/<225HV/<220HB) 357 12 100Equotip 測試塊 D/DC,經(jīng) Proceq 校準(zhǔn) (~600HLD/~335HV/~325HB/~35HRC) 357 13 100Equotip 測試塊 D/DC,經(jīng) Proceq 校準(zhǔn) (~775HLD/~630HV/~56HRC) 357 11 120Equotip 測試塊 DL,經(jīng) Proceq 校準(zhǔn) (<710HLDL/<225HV/<220HB) 357 12 120Equotip 測試塊 DL,經(jīng) Proceq 校準(zhǔn) (~780HLDL/~335HV/~325HB/~35HRC) 357 13 120Equotip 測試塊 DL,經(jīng) Proceq 校準(zhǔn) (~890HLDL/~630HV/~56HRC) 357 10 109Equotip 測試塊插入式校準(zhǔn) D/DC 357 10 129Equotip 測試塊插入式校準(zhǔn) DL
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