瑞士博勢 Proceq Equotip 550里氏硬度計-----于便攜式硬度測試的通用的一體化解決方案,Proceq推出Equotip 550 Leeb便攜動態(tài)里氏硬度計。用于便攜式硬度測試的通用的一體化解決方案Proceq的Equotip儀器自1975年推出以來便成為便攜式硬度測試的行業(yè)標準。隨著新一代Equotip 550 Leeb的推出,Proceq再次提高了標準。新的Proceq Equotip 550 Leeb是將里氏,便攜式Rockwell 和UCI方法相結(jié)合的一體化解決方案,并且將與即將到來的開發(fā)直接兼容。新一代觸摸屏單元利用高測量精度和舒適的用戶體驗,提高了測量效率。
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測量范圍寬 里氏沖擊裝置適合重型,大型或已安裝部件的現(xiàn)場測試。 |
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沖擊裝置及配件 Proceq提供各種沖擊裝置以及支撐環(huán),以滿足大多數(shù)硬度測試要求。 |
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廣泛的硬度標準覆蓋率 測量結(jié)果會根據(jù)需要自動轉(zhuǎn)換為所有常見的硬度標尺(HV, HB,HRC,HRB,HRA,HS)。 |
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測試塊組合 各種不同硬度的沖擊裝置都有各種各樣的精確硬度測試塊供常規(guī)驗證。 |
覆蓋廣泛的硬度測試應(yīng)用
Proceq Equotip 550里博裝載了為特定行業(yè)應(yīng)用精心挑選的交互式向?qū)?,以提高可靠性并確保精確的測量。在Equotip網(wǎng)站上可以找到詳細的石油與天然氣,汽車,航空航天和鋼鐵工作表以及推薦的測試方法。Proceq的Equotip 550一體式便攜式硬度測試儀變得更加強大。自定義您自己的報告并將用戶定義的信息添加到每個測量系列。里氏回彈硬度測試主要用于重型,大型或已經(jīng)安裝的金屬部件的現(xiàn)場測試,但也用于復(fù)合材料,橡膠和巖石的測試。便攜式羅克韋爾測試方法特別適用于刮擦,磨光或薄壁部件以及型材和管道。測量方法的自動組合擴展了Equotip 550的使用范圍。 Equotip 550是一個未來的投資,因為它可以通過額外的測試方法和功能進行擴展。Proceq提供各種沖擊裝置和配件,如支撐環(huán),測量夾和適配器,以滿足大多數(shù)硬度測試要求和樣品幾何形狀。
該儀器提供了一系列特別的功能,有助于加快現(xiàn)場和實驗室檢查:
直接在儀器上創(chuàng)建,編輯和驗證材料轉(zhuǎn)換曲線等等
現(xiàn)場使用的特殊外殼和受保護的硬件連接(IP 54)
特別的特點 - 杰出的優(yōu)勢
引導(dǎo)向?qū)岣吡斯に嚳煽啃?,提高了測量精度
通過模塊化配置定制測量報告
觸摸屏功能可以簡化和提高可用性,并結(jié)合高分辨率顯示器
個性化的屏幕可以根據(jù)用戶的需求安排信息和視圖
Equotip 550技術(shù)規(guī)格 |
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原理 |
里氏(動態(tài)):由彈簧壓力推動沖擊體,對測試件的表面進行沖擊,測量 沖擊體的速度 |
標準 |
ASTM A956, ISO 16859, DIN 50156 |
測量時間 |
短于 1 秒 |
原始單位 |
HL |
可用單元 |
HB, HV, HRA, HRB, HRC, HS, MPA |
拓展檢測方法用 |
Portable Rockwell, UCI |
探頭 |
D DC DL S E G C |
可測對象 |
極薄對象、不易接觸對象、拋光對象、圓形小對象、中等大小對象,非常堅硬對象、大型對象 |
顯示屏 |
7” 彩色觸摸屏(800 x 480 像素) |
內(nèi)存 |
內(nèi)部 8 GB 閃存(> 1’000’000 測量值) |
數(shù)據(jù)連接 |
USB,以太網(wǎng)和免費軟件 |
電源 |
可更換電池(> 8 小時電池使用壽命) |
語言 |
支持 11 種語言和時區(qū) |
個性化 |
用戶配置文件,用戶視圖 |
用戶指導(dǎo) |
屏幕提示,向?qū)Ш碗娮邮謨?/span> |
報告 |
PC 軟件,直接報告和自定義報告 |
測量配件 |
16支撐環(huán) |
校準塊 |
16測試塊 |
Equotip里氏配件 353 03 000套支撐環(huán)356 00 080 Equotip沖擊裝置電纜1.5米(5英尺) 353 00 086 Equotip沖擊裝置電纜5 m(15 英尺)
Equotip里氏沖擊裝置
356 00 500 Equotip里氏沖擊裝置C 356 00 100 Equotip Leeb沖擊裝置D 356 00 110 Equotip Leeb沖擊裝置DC 356 00 120 Equotip Leeb沖擊裝置DL 356 00 400 Equotip里氏沖擊裝置E 356 00 300 Equotip里氏沖擊裝置G 356 00 200 Equotip Leeb沖擊裝置S
由Proceq工廠校準 357 10 109 Equotip里氏試塊附加校準HLD / HLDC357 10 129 Equotip里氏試塊附加校準HLDL 357 10 209 Equotip里氏試塊附加校準HLS 357 10 409 Equotip里氏試塊附加標定HLE 357 10 509 Equotip里氏試塊附加校準HLC 357 30 309 Equotip里氏試塊附加校準
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由Proceq公司校準的Equotip里氏試塊 357 11 500 Equotip測試塊C,?565 HLC / <220 HB357 12 500 Equotip測試塊C,?665 HLC /?325 HB 357 13 500 Equotip試塊C,?835 HLC /?56 HRC 357 11 100 Equotip測試塊D / DC,<500 HLD / <220 HB 357 12 100 Equotip測試塊D / DC,?600 HLD /?325 HB 357 13 100 Equotip測試塊D / DC,?775 HLD /?56 HRC 357 13 105 Equotip測試塊D / DC,?775 HLD,一側(cè) 357 11 120 Equotip測試塊DL,<710 HLDL / <220 HB 357 12 120 Equotip測試塊DL,?780 HLDL /?325 HB 357 13 120 Equotip測試塊DL,?890 HLDL /?56 HRC 357 13 400 Equotip測試塊E,?740 HLE /?56 HRC 357 14 400 Equotip測試塊E,?810 HLE /?63 HRC 357 31 300 Equotip測試塊G,<450 HLG / <200 HB 357 32 300 Equotip測試塊G,?570 HLG /?340 HB 357 13 200 Equotip測試塊S,?815 HLS /?56 HRC 357 14 200 Equotip測試塊S,?875 HLS /?63 HRC
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