產品描述

德國Fischer X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量，菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線熒光測量儀器，用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯（17）到鈾（92）范圍內可同時測定多達24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。

產品特點：

?    菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設計；
?    配備固定的準直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析
?    配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，適用于更復雜的多元素分析
?    由下至上的測量方向，可以*簡便地實現樣品定位

典型應用領域包括：

?    珠寶、貴金屬和牙科合金
?    黃白色黃金
?    鉑和銀
?    銠
?    合金和涂層分析
?    多層涂層分析

預期用途	能量色散X射線測量儀（ED XRF）用于分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。
元素范圍	硫S（16）至鈾U（92）–同時多達24種元素
重復性	對于金≤0.5‰，測量時間60秒
設計	臺式單元，帶有向上打開的罩
測量方向	自下而上
X射線管	帶鈹窗的微焦點鎢管
高電壓	3 steps：30 kV，40 kV，50 kV;*大陽極電流：1 mA
光圈（準直儀）	? 1 mm (39 mils), 可選? 2 mm (79 mils) or ? 0.6 mm (23.6 mils)
測量點	? 1.2 mm (47 mils) with aperture ? 1 mm (39 mils)平放樣品（測量距離0毫米）

在線留言

內容