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德國FISCHER菲希爾SR-SCOPE RMP30-S銅板測厚儀
德國FISCHER菲希爾SR-SCOPE RMP30-S銅板測厚儀 德國FISCHER菲希爾SR-SCOPE RMP30-S銅板測厚儀
  • 德國FISCHER菲希爾SR-SCOPE RMP30-S銅板測厚儀

  • 產(chǎn)品編號 : SR-SCOPE RMP30-S
  • SR-SCOPE RMP30-S銅板測厚儀該便攜式設(shè)備采用 4 點(diǎn)電阻法,十分適合測量多層電路板上薄鍍層的厚度。這種電路板上的多層銅鍍層通常被環(huán)氧樹脂等絕緣體隔開。SR-SCOPE 的優(yōu)勢是利用電阻法測量不會(huì)受到其他層的影響,因此能夠精確測定上層面銅層的厚度。
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產(chǎn)品描述


德國FISCHER菲希爾SR-SCOPE® RMP30-S銅板測厚儀-------印制電路板銅厚的測量,該便攜式設(shè)備采用 4 點(diǎn)電阻法,十分適合測量多層電路板上薄鍍層的厚度。這種電路板上的多層銅鍍層通常被環(huán)氧樹脂等絕緣體隔開。SR-SCOPE 的優(yōu)勢是利用電阻法測量不會(huì)受到其他層的影響,因此能夠精確測定*上層面銅層的厚度。


SR-SCOPE® RMP30-S應(yīng)用

電路板上的銅鍍層
ERCU N 探頭:0.1–10 μm 以及 5–120 μm
ERCU-D10 探頭:0.1–10 μm 以及 5–200 μm


主要特性:


※易于使用的手持式設(shè)備,用于精確測量電路板上的鍍層厚度

功能原理基于 4 點(diǎn)電阻法,符合 DIN EN 14571 標(biāo)準(zhǔn)
放入探頭后即可自動(dòng)開始測量
對小型和大型測量區(qū)域提供各種探頭
大型液晶顯示器、自動(dòng)探頭識(shí)別
用于測量和超出限制的聲學(xué)信號、外部監(jiān)測
統(tǒng)計(jì)評估與存儲(chǔ),多達(dá)100個(gè)應(yīng)用程序中存儲(chǔ)*多10000個(gè)測量值,*多1000個(gè)塊
經(jīng)過認(rèn)證的Cu / Iso標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)提供了測量結(jié)果的可追溯性
微米和密耳之間可切換的測量單位

8顯示語言可選、雙向的RS232口用于PC或打印機(jī)連接。





訂貨信息:

SR-SCOPE RMP30-S 603-714
標(biāo)準(zhǔn)供貨范圍:儀器,
便攜箱,電池,交流適配器,說明書
支架V12底座604-420
ERCU探頭型號603-658的夾緊裝置
支持手持式儀器600-025
接口連接組MP 602-341
適配器USB - RS232 603-650
評估軟件FISCHER DataCenter 604-575

探頭ERCU-D10 603-387

Kal-S ERCU Cu / Iso5μm(0.2密耳)603-175
Kal-S ERCU Cu / Iso12μm(0.5密耳)603-176
Kal-S ERCU Cu / Iso18μm(0.7密耳)603-177
Kal-S ERCU Cu / Iso35μm(1.4密耳)603-178
Kal-S ERCU Cu / Iso70μm(2.8密耳)603-179
Kal-S ERCU Cu / Iso105μm(4.2密耳)603-180
Kal-S ERCU Cu / Iso140μm(5.6密耳)603-668


技術(shù)參數(shù)

型號

SR-SCOPE® RMP30-S

功能

采用微電阻原理測量銅層厚度

應(yīng)用

測量多層線路板及單、雙面軟板上銅箔層的厚度

主機(jī)特點(diǎn)

特大LCD 顯示屏

精度

ERCU N 探頭    范圍10.1 – 10 μm (0.004 – 0.4 mils) 

                     范圍25 – 120 μm (0.2 – 4.mils)

ERCU-D10探頭 范圍10.1 – 10 μm (0.004 – 0.4 mils)

                     范圍2: 5 – 200 μm (0.2 – 8 mils)

重復(fù)精度

ERCU N 探頭: 0.2 μm (0.008 mils) ≤ s ≤ 2 % 讀數(shù)

ERCU-D10 0.075 μm (0.003 mils) ≤ s ≤ 1.5 % 讀數(shù)

主機(jī)尺寸

160×80×30mm

主機(jī)重量

230g



來自Helmut Fischer的測量及分析儀器

菲希爾能提供多樣的產(chǎn)品種類,包括大量創(chuàng)新性的測試儀器,應(yīng)用于鍍層厚度測量、材料分析和測試、及納米壓痕等領(lǐng)域。您行業(yè)中各種應(yīng)用都可以在這里一站式地得到很好解決,從而讓您能以高的精確度獲得可靠的測試結(jié)果。


關(guān)于我們/About Us

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