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泰勒霍普森pgi freeform三維自由曲面光學(xué)輪廓測量儀
泰勒霍普森pgi freeform三維自由曲面光學(xué)輪廓測量儀
  • 泰勒霍普森pgi freeform三維自由曲面光學(xué)輪廓測量儀

  • 產(chǎn)品編號 : pgi freeform
  • 泰勒?霍普森 的 PGI Freeform(相位光柵干涉)是一款多功能、高分辨率的三維自由曲面輪廓測量儀,用于高精度的自由曲面光學(xué)測量。它可以對自由曲面光學(xué)器件進行表面粗糙度和形狀分析。
  • 詢價

產(chǎn)品描述



能夠為以下光學(xué)零件的提供柵格方向和徑向的三維測量與分析:
?   球面
?   非球面
?   衍射面
?   自由曲面
PGI Freeform可與新的用于定義自由曲面的方程式相兼容,測量多種多樣的自由曲面, 比如:
?   雙環(huán)曲面
?   雙圓錐面
?   變形非球面
?   橢球面
?   NURBS曲面
?   Zernike曲面
?   點云曲面


用于表面粗糙度和形狀測量的三維自由曲面光學(xué)輪廓測量儀:

隨著市場上自由曲面光學(xué)元件的興起和對日益復(fù)雜測量解決方案需求的不斷增長,英國泰勒霍普森公司研發(fā)生產(chǎn)出了可滿足自由曲面測量要求的多用途、高分辨率接觸式測量系統(tǒng)——Form Talysurf® PGI Freeform。Form Talysurf ®PGI Freeform自由曲面測量系統(tǒng)使得制造商能夠精確測量其光學(xué)元件并與設(shè)計資料進行比較。該系統(tǒng)采用柵式/徑向掃描方式進行測量,可以提供球面元件、非球面元件、衍射元件及自由曲面等面的三維光柵 及徑向分析。  


泰勒?霍普森 的 PGI Freeform(相位光柵干涉)是一款多功能、高分辨率的三維自由曲面輪廓測量儀,用于高精度的自由曲面光學(xué)測量。它可以對自由曲面光學(xué)器件進行表面粗糙度和形狀分析。Form Talysurf PGI Freeform自由曲面測量系統(tǒng)可以測量環(huán)面、雙錐面、合成非球面、橢球面、NURBS樣條曲面、非球面柱面 、點云以及Zernike定義的曲面等等。 Form Talysurf ®PGI Freeform自由曲面測量系統(tǒng)基于幾十年的測量經(jīng)驗的積淀,精密生產(chǎn)經(jīng)驗以及有限元優(yōu)化設(shè)計,提供了低噪聲和近乎完美的機械運動軸。測針測量范圍可達到28mm,分辨率可達0.8nm,測量角度到達50°,面型誤差小于150nm。


靈活多樣、高分辨率自由曲面測量系統(tǒng)

——全新的PGI Freeform是一款靈活多樣、高分辨率的光學(xué)測量系統(tǒng),適用于高精密光學(xué)零件的自由曲面的測量。

測量的整體性與重復(fù)能力

泰勒?霍普森PGI Freeform數(shù)十年的測量經(jīng)驗積累、精密加工專業(yè)知識與有限元分析(FEA)優(yōu)化設(shè)計相結(jié)合,可加工出低噪音、近乎完美的機械軸。全新的軟件操作界面,設(shè)置簡單,可進行自由曲面的高精度分析。功能強大的PGI Freeform使其稱為光學(xué)零件分析測量的*選。


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