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英國(guó)雷尼紹Renishaw TP200坐標(biāo)機(jī)測(cè)頭
英國(guó)雷尼紹Renishaw TP200坐標(biāo)機(jī)測(cè)頭 英國(guó)雷尼紹Renishaw TP200坐標(biāo)機(jī)測(cè)頭 英國(guó)雷尼紹Renishaw TP200坐標(biāo)機(jī)測(cè)頭
  • 英國(guó)雷尼紹Renishaw TP200坐標(biāo)機(jī)測(cè)頭

  • 產(chǎn)品編號(hào) : TP200
  • TP200?具有模塊交換功能的超小型測(cè)頭,它使用應(yīng)變片機(jī)構(gòu),比機(jī)械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測(cè)頭的壽命更長(zhǎng)、精度更高。TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的測(cè)量重復(fù)性和精確的3D空間形狀測(cè)量精度,即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。
  • 詢(xún)價(jià)

產(chǎn)品描述



TP200具有模塊交換功能的超小型測(cè)頭,它使用應(yīng)變片機(jī)構(gòu),比機(jī)械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測(cè)頭的壽命更長(zhǎng)、精度更高。TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的測(cè)量重復(fù)性和精確的3D空間形狀測(cè)量精度,即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。

TP200B采用的技術(shù)與TP200相同,但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長(zhǎng)測(cè)針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問(wèn)題。請(qǐng)注意,我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測(cè)針。

TP200系統(tǒng)組件包括:
TP200或TP200B測(cè)頭本體(TP200B為另一款,允許更大振動(dòng)公差)
TP200測(cè)針模塊 — 選擇固定越程測(cè)力:SF(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力)或LF(低測(cè)力)
PI 200-3測(cè)頭接口
SCR200測(cè)針交換架
還有一種EO模塊(擴(kuò)展越程),越程測(cè)力與SF相同,但工作范圍更大,并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。 


特性與優(yōu)點(diǎn):
應(yīng)變片技術(shù)具備優(yōu)異的測(cè)量重復(fù)性和精確的3D空間形狀測(cè)量精度
零復(fù)位誤差
無(wú)各向同性影響
六向測(cè)量能力
測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100 mm(GF測(cè)針)
測(cè)頭模塊快速交換,無(wú)需重新標(biāo)定測(cè)尖
壽命 >1000萬(wàn)次觸發(fā)
TP200/TP200B測(cè)頭本體


規(guī)格摘要

TP200 TP200B

主要應(yīng)用

用于需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。

與TP200一樣,但是用在出現(xiàn)誤觸發(fā)事件的場(chǎng)合。

感應(yīng)方向

六軸:±X、±Y、±Z

六軸:±X、±Y、±Z

單向重復(fù)性 (2s μm)

電平觸發(fā)1:0.40 μm

電平觸發(fā)2:±0.50 μm

電平觸發(fā)1:0.40 μm

電平觸發(fā)2:±0.50 μm

XY(2D)輪廓測(cè)量偏差

電平觸發(fā)1:0.80 μm

電平觸發(fā)2:±0.90 μm

電平觸發(fā)1:±1 μm

電平觸發(fā)2:±1.2 μm

XYZ (3D) 輪廓測(cè)量偏差

電平觸發(fā)1:±1 μm

電平觸發(fā)2:±1.40 μm

電平觸發(fā)1:±2.50 μm

電平觸發(fā)2:±4 μm 

測(cè)針交換的重復(fù)性

SCR200:±0.50 μm(*大)

手動(dòng):±1 μm(*大)

SCR200:±0.50 μm(*大)

手動(dòng):±1 μm(*大)

測(cè)力(測(cè)尖)

XY平面(所有模塊):0.02 N

Z軸(所有模塊):0.07 N

XY平面(所有模塊):0.02 N

Z軸(所有模塊):0.07 N

越程測(cè)力(位移為0.50 mm時(shí))

XY平面(SF / EO模塊):0.2 N至0.4 N

XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N

Z軸(SF / EO模塊):4.90 N

Z軸(LF模塊):1.60 N

XY平面(SF / EO模塊):0.2 N至0.4 N

XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N

Z軸(SF / EO模塊):4.90 N

Z軸(LF模塊):1.60 N 

重量(測(cè)頭傳感器和模塊)

22 g 

22 g 

*長(zhǎng)加長(zhǎng)桿(如配在PH10 PLUS系列測(cè)座上)

300 mm 

300 mm 

推薦的*大測(cè)針長(zhǎng)度(M2測(cè)針系列)

SF / EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF

LF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF

SF / EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF

LF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF

安裝方式

M8螺紋

M8螺紋 

適合的接口

PI 200-3、UCC

PI 200-3、UCC

測(cè)針模塊交換架

自動(dòng):SCR200

手動(dòng):MSR1 

自動(dòng):SCR200

手動(dòng):MSR1 

測(cè)針系列

M2

M2


TP200測(cè)針模塊:

測(cè)針模塊通過(guò)高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測(cè)頭本體上,具有快速測(cè)針交換功能和測(cè)頭越程保護(hù)功能。

有三種測(cè)針模塊可供選擇,具有兩種不同的越程測(cè)力。


模塊

SF(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力)

LF(低測(cè)力)

EO(長(zhǎng)越程)

應(yīng)用 

一般使用。

小直徑測(cè)球或必須使用小測(cè)力的場(chǎng)合。

額外越程使坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。

說(shuō)明

測(cè)針*長(zhǎng)可達(dá)100 mm,測(cè)球直徑 > 1 mm。

測(cè)球直徑小于1 mm。

與SF的越程測(cè)力相同。

測(cè)頭Z軸的額外越程為8 mm。


SCR200交換架:

SCR200

SCR200可以高速自動(dòng)交換多達(dá)六個(gè)TP200測(cè)針模塊。SCR200由獨(dú)自的測(cè)頭接口 — PI 200-3供電,并可確保安全的測(cè)針交換。SCR200套件可包含低測(cè)力和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力組件,每一種套件都包含一個(gè)SCR200加上三個(gè)測(cè)力相同的測(cè)針模塊。




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